10일 SK하이닉스에 따르면 차선용 미래기술연구원장(CTO)은 일본 교토에서 8일부터 12일까지 진행되는 IEEE VLSI 심포지엄 2025에서 지속 가능한 혁신 방향성을 제시했다.
차선용 CTO는 기조연설 중 "현재의 테크 플랫폼을 적용한 미세 공정은 점차 성능과 용량을 개선하기 어려운 국면에 접어들고 있다"면서 "4F² VG 플랫폼과 3D D램 기술을 준비해 기술적 한계를 돌파하겠다"고 말했다.
4F² VG 플랫폼은 D램의 셀 면적을 최소화하고 수직 게이트 구조를 통해 고집적, 고속, 저전력 D램을 구현하도록 하는 차세대 메모리 기술이다. 현재 6F² 셀이 일반적이지만, 4F² 셀과 함께 회로부를 셀 영역 아래로 배치하는 웨이퍼 본딩 기술을 적용하면 셀 효율은 물론 전기적 특성까지 개선되는 효과를 기대할 수 있다고 회사 측은 설명했다.
차 CTO는 3D D램도 차세대 D램 기술의 핵심 축으로 제시했다. 업계에서는 이 기술의 제조 비용이 적층 수에 비례해 증가할 것으로 보고 있지만, SK하이닉스는 기술 혁신을 통해 이를 극복하고 경쟁력을 확보하겠다는 청사진을 수립했다.
아울러 차 CTO는 구조적 혁신을 넘어 핵심 소재와 D램 구성 요소 전반의 기술을 고도화해 새 성장 동력을 확보하겠다는 계획도 공유했다.
차 CTO는 "2010년 전후만 하더라도 D램 기술은 20나노가 한계라는 전망이 많았으나 지속적인 기술 혁신을 통해 현재에 이르게 됐다"면서 "앞으로 D램 기술 개발에 참여할 젊은 엔지니어의 이정표가 될 중장기 기술 혁신 비전을 제시하고, 업계와 협력해 D램의 미래를 현실로 만들겠다"고 덧붙였다.

뉴스웨이 차재서 기자
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